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涂層測厚儀 PC-LEPTOSKOP 2050
如果您對該產品感興趣的話,可以 給我留言
品牌名稱：中科撲道技術
產品型號： PC-LEPTOSKOP 2050
產品展商：
產品文檔： 無相關文檔
涂層測厚儀 PC-LEPTOSKOP 2050 PC-LEPTOSKOP 2050 中科撲道技術

涂層測厚儀 PC-LEPTOSKOP 2050 筆記型電腦與個人電腦軟件statwin 2002 ， 電腦微型探頭和定位裝置

涂層測厚儀 PC-LEPTOSKOP 2050
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服務：售前咨詢電話：400-880-5151
產品文檔： 無相關文檔
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涂層測厚儀 PC-LEPTOSKOP 2050
涂層測厚儀 PC-LEPTOSKOP 2050
筆記型電腦與個人電腦軟件statwin 2002 ，
電腦微型探頭和定位裝置

PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測厚儀的探頭，它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚儀的功能均可通過與WINDOWS操作系統匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現。
當啟動statwin 2002時，一個真實的涂層測厚儀顯示圖像就可以顯示在個人電腦的屏幕上。 所有功能操作只需點擊一下鼠標或鍵盤。 STATWIN 2002用statwin 2002 ，可以分批儲存和管理幾乎任何數量的測量數據。 文件和歸檔幾乎是無限的。 此外，該軟件附帶了大量的統計功能，可以實現測量評估和批次。

除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度（如鋼鐵上的漆層或鉻層）和導電材料上的非導電層涂層的厚度（如非鐵金屬上的漆層） ，測量范圍到1200 μ m的標準探頭，我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復雜的幾何形狀的探頭，雙晶探頭可測量厚度高達12.5mm，我們同時還提供完整的配件。
為固定測試有特別的設計， PC-leptoskop 2050是一個**的膜層測厚儀。
 
訂貨信息
STATWIN 2002 電腦軟件　　　　　　　　　　2904.001　
用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0
 
探頭，測量范圍和訂貨號


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