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leeb230涂層測厚儀（金屬外殼分體N1型探頭）
leeb230涂層測厚儀（金屬外殼分體N1型探頭）
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品牌名稱：其它品牌
產品型號：leeb230
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leeb230涂層測厚儀（金屬外殼分體N1型探頭）
leeb230
其它品牌
leeb230涂層測厚儀（金屬外殼分體N1型探頭）電源
AA型堿性電池1.5V兩節
外殼
金屬外殼
外形尺寸
150×55.5×23mm（主機）
leeb230涂層測厚儀（金屬外殼分體N1型探頭）
產品產商：
會員價格：0.00
服務：售前咨詢電話：400-880-5151
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leeb230涂層測厚儀（金屬外殼分體N1型探頭）
leeb230涂層測厚儀（金屬外殼分體N1型探頭）
技術參數
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測頭類型
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Leeb230
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Leeb231
|
Leeb232
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測頭類型
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F1
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N1
|
F1或N1
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工作原理
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磁感應
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電渦流
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磁感應或電渦流
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測量范圍
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0~1000μm
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低限分辨率
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0.1μm
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示值誤差
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一點校準
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±（3%H+1）
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二點校準
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±[（1~3%)H+1]
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測試條件
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*小曲率半徑mm
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凸1.5、凹9
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*小面積直徑mm
|
Φ7
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基本臨界厚度mm
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0.5
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工作環境
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溫度
|
0~40℃
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濕度
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20%~90%
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電源
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AA型堿性電池1.5V兩節
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外殼
|
金屬外殼
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外形尺寸
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150×55.5×23mm（主機）
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重量
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240g
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標準配置
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主機、標準試片、基體、AA型堿性電池
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選配
|
-
|
-
|
多種探頭
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