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簡析TD-LTE系統測試儀表欠缺


簡析TD-LTE系統測試儀表欠缺
目前,在部電信研究院新近落成的3G大樓中,已安排了10個系統設備廠家的試驗室,目前10個廠家都陸續進場。此外,還建有多家終端芯片廠家的聯調測試試驗室,并為TD-LTE的測試儀表開發等提供服務。

  新型無線技術與產品的成熟,迫切需要外場的試驗環境。在外場環境中,無線資源管理算法與調度等算法可進行優化,并對無線組網性能進行驗證與提高。為此,在北京郊區的懷柔和順義相繼建設TD-LTE的外場環境。每個廠家建有5個基站(每基站3扇區)。LTE是新型的無線技術,網絡架構與以往系統不同,在測試中遇到一些問題和挑戰

  1.空口信令測試

  為了降低時延,LTE采用了扁平化的架構,在無線部分只有eNodeB一個網元設備。因此3G采用的在RNC和NodeB間的Iub接口上監測空口信令的方式,不適用于LTE系統。在目前的LTE系統中,各廠家的基站普遍采用了分布式基站架構,即由BBU和RRU組成。因此LTE中空口信令的監測有兩種方案:一種是利用模擬UE類工具來監測空口的協議;**種是在Ir接口上監測空口信令。在比較了這兩種方案后,由于**種方案受限于Ir接口的非標性和不開放性,目前暫時沒有第三方儀表,所以在測試中基本采用的是**種方案。

  2.接口一致性測試

  在LTE系統中,對基站有三個主要接口,分別是Uu、S1和X2接口。S1是基站和核心網之間的接口,X2是基站之間的接口。如何保證LTE基站與CN設備,以及不同廠家之間基站的互操作性,我們建立了一套接口一致性測試系統。這套測試系統是在信令仿真類儀器儀表的基礎上進行二次開發而成。隨著需求和產品功能的不斷增加,這套測試系統的測試內容也會隨之不斷增加。通過這套系統也可實現測試的自動化,減少測試時間。

  3.上行解調性能測試

  3GPP在制定LTE的上行解調性能指標時,主要是針對2天線和4天線來制定的,沒有制定8天線的性能指標。為了能夠對8天線設備進行相應的性能測試,在測試前,我們聯合運營商、制造商通過討論、仿真和評估,明確了具體的測試模型、測試指標,確定了*后的測試方案,并在試驗中加以驗證。

  4.TD-LTE多天線性能測試

  在TD-LTE技術試驗中,為了能對多天線性能進行必要的測試,組織了產學研用幾方面共同攻關,研究確定了TD-LTE智能天線整體測試方案。這套測試系統主要是在上行和下行方向各使用了一套信道仿真模擬器,用于模擬實際的信道場景,**實現8通道信道模擬和測試系統。通過這套測試系統,可實現8通道天線性能的可復現和**定量測試。

  在這次TD-LTE技術試驗過程中,我們深刻感受到在新技術方面,系統設備的研發和成熟程度明顯早于儀表。因此需要加快儀表開發以及儀表對新功能的支持響應速度。

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